透射电镜（TEM）电子衍射在晶体结构分析中的应用

　　X射线单晶衍射技术（SXRD，SinglecrystalXraydiffraction）和X射线粉末衍射技术（PXRD，PowderXraydiffraction）经常被用于研究晶体结构。X射线衍射技术对解析的晶体尺寸有限制，即使采用同步辐射光源，也无法解析出超过微米级的纳米晶体结构。电子束具有更短的波长和更强的衍射能力，因此可以用于纳米晶体的结构分析。
　　透射电镜技术不仅可以实现高分辨率的成像，还可以进行电子衍射分析。它已成为研究纳米晶体材料的重要手段，包括识别纳米结构的发展方向、解析晶体的晶胞参数和原子的排列结构等。
　　一、判断已知纳米结构的生长方向
　　在研究晶体结构时，需要确定其优势生长面和生长方向，特别是纳米线和纳米带。通过电子衍射图和透射电镜，可以得到一个二维倒易平面的放大，与倒易空间像和正空间像相当。正空间的一个晶面族（hkl）可用倒空间的一个倒易点hkl来表示，正空间的一个晶带〔uvw〕可用倒空间的一个倒易面（uvw）来表示，对应关系如图1所示，在透射电镜中，电子束沿晶带轴的反方向入射到晶体中，受晶面族（h1k1l1）的衍射产生衍射斑（h1k1l1），那么衍射斑与透射斑的连线垂直于晶面族（h1k1l1），据此可判断晶体的优势生长面及生长方向。
　　图1
　　图2
　　具体的方法是：首先拍摄形貌像，在同一位置进行电子衍射，找出优势生长面，与电子衍射花样对照，找出与透射斑连线垂直的透射斑，并进行标定，根据晶面指数计算出生长方向。如图2所示，要确定一维纳米线的生长方向，首先需要对电子衍射进行校准。首纳米线的优势生长面为与纳米线垂直的面，在电子衍射图上找出与此面垂直的透射斑与衍射斑的连线，确定优势生长面是（011）面，由于该物是四方晶系，根据四方晶系的正倒易转换矩阵，将（011）面转换为生长方向〔012〕。
　　二、手动解析纳米晶体的晶体结构参数
　　如前所述，一张电子衍射图代表一个晶带轴的倒易点阵，只能得到晶体结构二维的信息，如果让晶体沿某一特定晶带轴旋转，获得一系列的电子衍射花样，即可得到多个晶带轴的倒易点阵，根据这些电子衍射花样和倾转角可以重构出三维的倒易点阵，从而可以确定未知结构所属的晶系和晶胞参数。在特定晶带轴上选择最密排的点，可能与晶体的单胞参数相对应。在旋转晶体时，通过透射电镜的双倾台在两个垂直方向上旋转，使晶体从一个晶带轴到另一个晶带轴，最终的旋转角由两个方向的转角合成。
　　例如，用此方法对实验室合成的氧化锌纳米线的晶体结构进行确定，首先在不倾转的情况下得到正带轴的一张电子衍射花样，然后在保持密排点不动的情况下，旋转晶体，依次转到另外三个正带轴如图3所示，并通过X，Y倾转的角度合成出空间旋转角；如图4所示，以密排点阵为横坐标，旋转角度做线，计算出与相邻点阵之间的倒易距离，并在线上画出相应的倒易点阵点，根据对称性画出其他点阵点。即重构出了氧化锌的三维倒易点阵；由倒易点阵的六次对称性可判断此纳米线为六方晶系，通过进一步计算得到其晶胞参数为a3，b3，c5，90，90，120。
　　图3
　　图4
　　此种方法需要手动倾转样品需要两个方向配合，将样品移回原位，这需要操作者具备足够的经验，而且需要一定的时间，对于不耐电子束辐照的样品，如有机晶体，很难获得足够多的正带轴电子衍射花样。另外，由于手动得到的衍射花样数量有限，且有电子衍射多重散射的动力学效应的影响，无法解析原子的排列结构，必须像X射线单晶衍射仪能够自动倾转样品，同时收集大量衍射数据，并进行合成自动标定等才能得到原子结构的排列信息。
　　三、自动解析未知纳米晶体的原子结构：
　　近年来，瑞典斯德哥尔摩大学的邹晓东教授提出了一种自动收集电子衍射花样并解析纳米材料中原子排列的方法，这些方法减弱了电子衍射动力学效应，使得电子衍射可以像X射线单晶衍射一样解析晶体的原子排列结构。
　　这些方法主要包括旋进电子衍射（PED，Processionelectrondiffraction）及电子衍射三维重构（ADT，AutomateddiffractiontomograpHy；RED，Rotationelectrondiffraction），已解析出沸石、金属有机骨架（MOFs，Metalorganicframeworks）、共价有机骨架（COFs，Covalentorganicframeworks）等多种纳米材料的原子排列结构。
　　旋进电子衍射PED是采用类似X射线衍射中的旋进技术，只不过样品不倾斜，通过将电子束小角度倾斜，沿与透射电镜光轴同轴的锥面在样品表面扫描，并利用软件自动收集每一幅电子衍射花样，进行合并分析，可以有效减少多重散射，从而降低动力学效应，使鉴定空间群相对容易，并通过衍射强度分析揭示纳米材料的原子排列结构。
　　已用这种方法解析了沸石如MCM22，SSZ48，ITQ40等的晶体结构，如图5为SSZ48三个晶带轴的电子衍射及由此得出的结构模型。现在，已有商业化的控制电子束旋进的硬件及配套的采集、分析衍射图的软件。
　　图5
　　图6
　　PED技术通常是沿着晶体的某个晶带轴旋进，要求转正晶体的带轴，而电子衍射的三维重构技术ADT和RED是使样品进行大角度范围的倾转（通常30到30），无需转正晶体的带轴，可沿任意带轴进行数据采集，因此比PED技术更有优势。比如由邹晓东教授团队开发的RED技术是在控制测角台即样品旋转的同时，控制电子束的偏转，通常样品每转23，电子束同时倾转0。10。4，这样避免了动力学效应，应用软件在不到一个小时之内可采集上千张电子衍射图，之后再进行谱图融合、单胞确定、指数标定、强度提取等数据处理，之后可应用与X射线单晶解析相同的方法进行结构解析及精修，如图6为应用RED技术解析的一种MOFs（ZIF7）的结构。可以看出，采用RED技术可以将透射电镜发展成电子衍射仪，可以解析出纳米晶体的未知结构，这将在纳米晶体结构研究中发挥重要作用。目前，电子衍射解析晶体结构存在一个主要问题：电子束对样品的损伤可以通过低温等方式减弱。
　　综上所述，透射电镜电子衍射在晶体结构分析方面具有重要的应用前景，在已有硬件和软件的基础上，金鉴测试中心电镜组已经初步开展了纳米材料生长方向判定以及未知晶体晶胞参数确定的工作，为了弥补常规X射线衍射技术无法解析纳米晶体结构的不足，我们将深入研究电子衍射三维重构技术所需的配件。